1
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國立成功大學貴重儀器使用中心
Instruments Center of NCKU
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儀器名稱
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【EA000600】元素分析儀
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【EA000600】元素分析儀
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Instrument Name
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Elemental Analyzer
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儀器類別
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元素分析儀
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儀器狀態
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服務
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預約剩餘次數
(一個月內)
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校內預約剩餘次數:68
校外預約剩餘次數:55
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計費設定
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2
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國立成功大學貴重儀器使用中心
Instruments Center of NCKU
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儀器名稱
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【EM000600】分析型場發掃描式電子顯微鏡
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【EM000600】分析型場發掃描式電子顯微鏡
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Instrument Name
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ZEISS AURIGA AFE-SEM
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儀器類別
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電子顯微鏡
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儀器狀態
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服務
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預約剩餘次數
(一個月內)
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校內預約剩餘次數:0
校外預約剩餘次數:0
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計費設定
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3
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國立成功大學貴重儀器使用中心
Instruments Center of NCKU
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儀器名稱
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【EM000700】多功能環境場發掃描式電子顯微鏡
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【EM000700】多功能環境場發掃描式電子顯微鏡
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Instrument Name
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Multi-function environmental field emission scanning electron microscope with EDS and EBSD
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儀器類別
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電子顯微鏡
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儀器狀態
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服務
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預約剩餘次數
(一個月內)
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校內預約剩餘次數:0
校外預約剩餘次數:0
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|
|
計費設定
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4
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國立成功大學貴重儀器使用中心
Instruments Center of NCKU
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儀器名稱
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【EM000800】高解析穿透式電子顯微鏡
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【EM000800】高解析穿透式電子顯微鏡
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Instrument Name
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Ultrahigh Resolution Transmission Electron Microscope
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儀器類別
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電子顯微鏡
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儀器狀態
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服務
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預約剩餘次數
(一個月內)
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校內預約剩餘次數:0
校外預約剩餘次數:0
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|
計費設定
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| | | | | | | | |
基礎服務 | 109 | filament charge |
| filament charge | 4,000 | 無折扣 |
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基礎服務 | 109 | lattice image |
| lattice image | 1,000 | 無折扣 |
| |
基礎服務 | 109 | nano diffraction |
| nano diffraction | 1,000 | 無折扣 |
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基礎服務 | 109 | EDS |
| EDS | 1,000 | 無折扣 |
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基礎服務 | 109 | EELS |
| EELS | 1,000 | 無折扣 |
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基礎服務 | 109 | CCD photo |
| CCD photo | 1,000 | 無折扣 |
| |
基礎服務 | 109 | plasma cleaner |
| plasma cleaner | 500 | 無折扣 |
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基礎服務 | 109 | JEOL-2100F Cs STEM Request operation |
| JEOL-2100F Cs STEM Request operation | 4,000 | 無折扣 |
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基礎服務 | 109 | JEOL-2100F Cs STEM Super User |
| JEOL-2100F Cs STEM Super User | 1,000 | 無折扣 |
| |
基礎服務 | 110 | filament charge |
| filament charge | 600 | 無折扣 |
| |
尖端服務 | 110 | filament charge |
| filament charge | 600 | 無折扣 |
| 該項目尖端服務,請下載尖端申請書後,與技術人員連絡,謝謝。 |
尖端服務 | 110 | Static Cell and E-Chip |
| Static Cell and E-Chip | 6,000 | 無折扣 |
| 該項目尖端服務,請下載尖端申請書後,與技術人員連絡,謝謝。 |
基礎服務 | 110 | lattice image |
| lattice image | 100 | 無折扣 |
| |
基礎服務 | 110 | nano diffraction |
| nano diffraction | 100 | 無折扣 |
| |
尖端服務 | 110 | Static cell |
| Static cell | 6,000 | 無折扣 |
| 該項目尖端服務,請下載尖端申請書後,與技術人員連絡,謝謝。 |
尖端服務 | 110 | CCD photo |
| CCD photo | 200 | 無折扣 |
| 該項目尖端服務,請下載尖端申請書後,與技術人員連絡,謝謝。 |
基礎服務 | 110 | EDS |
| EDS | 100 | 無折扣 |
| |
基礎服務 | 110 | EELS |
| EELS | 150 | 無折扣 |
| |
基礎服務 | 110 | CCD photo |
| CCD photo | 200 | 無折扣 |
| |
基礎服務 | 110 | plasma cleaner |
| plasma cleaner | 100 | 無折扣 |
| |
基礎服務 | 110 | JEOL-2100F Cs STEM Request operation |
| JEOL-2100F Cs STEM Request operation | 500 | 無折扣 |
| |
基礎服務 | 110 | JEOL-2100F Cs STEM Super User |
| JEOL-2100F Cs STEM Super User | 150 | 無折扣 |
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5
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國立成功大學貴重儀器使用中心
Instruments Center of NCKU
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儀器名稱
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【EM000900】軟物質穿透式電子顯微鏡
|
【EM000900】軟物質穿透式電子顯微鏡
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Instrument Name
|
Soft matter Transmission Electron Microscope
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儀器類別
|
電子顯微鏡
|
儀器狀態
|
服務
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預約剩餘次數
(一個月內)
|
校內預約剩餘次數:0
校外預約剩餘次數:0
|
|
|
計費設定
|
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6
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國立成功大學貴重儀器使用中心
Instruments Center of NCKU
|
儀器名稱
|
【EM000907】軟物質穿透式電子顯微鏡
|
【EM000907】軟物質穿透式電子顯微鏡
|
Instrument Name
|
Soft matter Transmission Electron Microscope
|
儀器類別
|
電子顯微鏡
|
儀器狀態
|
服務
|
預約剩餘次數
(一個月內)
|
校內預約剩餘次數:7
校外預約剩餘次數:10
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計費設定
|
|
|
7
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國立成功大學貴重儀器使用中心
Instruments Center of NCKU
|
儀器名稱
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【EM003600】高解析掃描電子顯微鏡
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【EM003600】高解析掃描電子顯微鏡
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Instrument Name
|
HIGH RESOLUTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
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儀器類別
|
電子顯微鏡
|
儀器狀態
|
服務
|
預約剩餘次數
(一個月內)
|
校內預約剩餘次數:0
校外預約剩餘次數:0
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計費設定
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8
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國立成功大學貴重儀器使用中心
Instruments Center of NCKU
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儀器名稱
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【EM012300】穿透式電子顯微鏡
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【EM012300】穿透式電子顯微鏡
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Instrument Name
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Transmission Electron Microscope (TEM-2010)
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儀器類別
|
電子顯微鏡
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儀器狀態
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服務
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預約剩餘次數
(一個月內)
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校內預約剩餘次數:12
校外預約剩餘次數:7
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計費設定
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9
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國立成功大學貴重儀器使用中心
Instruments Center of NCKU
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儀器名稱
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【EM012400】桌上型掃描式電子顯微鏡
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【EM012400】桌上型掃描式電子顯微鏡
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Instrument Name
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Table SEM
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儀器類別
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電子顯微鏡
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儀器狀態
|
服務
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預約剩餘次數
(一個月內)
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校內預約剩餘次數:12
校外預約剩餘次數:12
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計費設定
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10
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國立成功大學貴重儀器使用中心
Instruments Center of NCKU
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儀器名稱
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【EM025200】前瞻聚焦離子束系統
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【EM025200】前瞻聚焦離子束系統
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Instrument Name
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Advanced focused ion beam system
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儀器類別
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電子顯微鏡
|
儀器狀態
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暫停服務
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預約剩餘次數
(一個月內)
|
校內預約剩餘次數:0
校外預約剩餘次數:0
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計費設定
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